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XRF ROHS分析儀優(yōu)點(diǎn):

a) 分析速度高。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。

b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定 。

c) 非破壞分析。在測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。

e) 分析精密度高。

f) 制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。

RoHS測(cè)試為例，對(duì)臺(tái)式EDXRF測(cè)試結(jié)果X進(jìn)行如下解釋：

??元素 單純的塑膠材料 單純的金屬材料 復(fù)合材料

??Cr X<700ppm，可視為滿足要求 X<700ppm，可視為滿足要求 X<500ppm，可視為滿足要求

??X>700ppm無(wú)法判斷是否滿足要求，需進(jìn)行化學(xué)分析 X>700ppm無(wú)法判斷是否滿足要求，需進(jìn)行化學(xué)分析 X>500ppm無(wú)法判斷是否滿足要求，需進(jìn)行化學(xué)分析

??Br X<300ppm，可視為滿足要求 —— X<250ppm，可視為滿足要求

??X>300ppm無(wú)法判斷是否滿足要求 —— X>250ppm無(wú)法判斷是否滿足要求

??Pb X<700ppm，可視為滿足要求 X<700ppm，可視為滿足要求 X<500ppm，可視為滿足要求

??1300ppm>X>700ppm無(wú)法判斷是否滿足要求，需進(jìn)行化學(xué)分析 1300ppm>X>700ppm無(wú)法判斷是否滿足要求，需進(jìn)行化學(xué)分析 1500ppm>X>500ppm無(wú)法判斷是否滿足要求，需進(jìn)行化學(xué)分析

??X>1300ppm可視為不滿足要求 X>1300ppm可視為不滿足要求 X>1500ppm可視為不滿足要求

??Hg X<700ppm，可視為滿足要求 X<700ppm，可視為滿足要求 X<500ppm，可視為滿足要求

??1300ppm>X>700ppm無(wú)法判斷是否滿足要求，需進(jìn)行化學(xué)分析 1300ppm>X>700ppm無(wú)法判斷是否滿足要求，需進(jìn)行化學(xué)分析 1500ppm>X>500ppm無(wú)法判斷是否滿足要求，需進(jìn)行化學(xué)分析

??X>1300ppm可視為不滿足要求 X>1300ppm可視為不滿足要求 X>1500ppm可視為不滿足要求

??Cd X<70ppm，可視為滿足要求 X<700ppm，可視為滿足要求 X<70ppm，可視為滿足要求

??1300ppm>X>700ppm無(wú)法判斷是否滿足要求，需進(jìn)行化學(xué)分析 1300ppm>X>700ppm無(wú)法判斷是否滿足要求，需進(jìn)行化學(xué)分析 1500ppm>X>500ppm無(wú)法判斷是否滿足要求，需進(jìn)行化學(xué)分析

??X>1300ppm可視為不滿足要求 X>1300ppm可視為不滿足要求 X>1500ppm可視為不滿足要求

??從上述描述可知，XRF適合用于材料是否符合法規(guī)要求的快速篩選，XRF的測(cè)試屬于定性半定量測(cè)試，XRF的測(cè)試結(jié)果不能用于符合性判斷的準(zhǔn)確結(jié)果。